企業(yè)資訊 | 金年會精彩亮相2024 DIC EXPO

         7月3日至5日，為期3天的DIC EXPO 國際（上海）顯示技術(shù)及應(yīng)用創(chuàng)新展在上海新國際博覽中心落下帷幕。作為新型顯示行業(yè)極具影響力的盛會，匯聚了300余家國內(nèi)外核心顯示企業(yè)展示產(chǎn)業(yè)鏈最新技術(shù)解決方案。

         金年會攜光、電、BMS測試設(shè)備以及半導(dǎo)體領(lǐng)域的多款產(chǎn)品和解決方案亮相展會，吸引了眾多行業(yè)觀眾駐足交流。

精彩回顧

中國光學(xué)光電子行業(yè)協(xié)會液晶分會理事長陳炎順先生，中國光學(xué)光電子行業(yè)協(xié)會液晶分會常務(wù)副理事長兼秘書長梁新清先生，中國科學(xué)院院士歐陽鐘燦先生等一行嘉賓蒞臨金年會展臺進(jìn)行參觀指導(dǎo)。

展區(qū)風(fēng)采

光電展區(qū)

         光電展區(qū)，動態(tài)展示了點(diǎn)式色彩分析儀、多角度光譜儀、面陣式色度計(jì)三類金年會自主研發(fā)的顏色測量儀器，有十多種型號的產(chǎn)品可供選擇。展臺上的光學(xué)三合一測試平臺，將這三類產(chǎn)品集于一體，可實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)色度亮度檢測、GAMMA調(diào)整、閃爍度檢測、多視角色差檢測、光譜測量、屏幕顏色均勻性，色差及black mura檢測。此外，該展區(qū)還展出了ICM-31-G加VR鏡頭的測試方案，展現(xiàn)了公司在AR/VR整機(jī)光學(xué)參數(shù)檢測能力。

光信號發(fā)生器（PG）展區(qū)

         該展區(qū)展出了CELL PG、模組PG器、信賴性PG三類產(chǎn)品。金年會圖像信號發(fā)生器能夠?yàn)楦黝愋蚅CD/OLED 面板提供信號及電源驅(qū)動，調(diào)節(jié)輸出各種Timing Sequence、ON/OFF時(shí)序等用于驅(qū)動各尺寸類型液晶模組，同時(shí)對頻率、電壓、電流參數(shù)、階調(diào)值等進(jìn)行調(diào)整和測試，應(yīng)用于大中小各種尺寸規(guī)格的模組點(diǎn)燈測試，實(shí)現(xiàn)Gamma調(diào)節(jié)、Flicker調(diào)節(jié)、Demura等功能。

BMS測試設(shè)備展區(qū)

        BMS測試設(shè)備展區(qū)展出了3款產(chǎn)品：Cell Tester，Battery Tester，Cycler Tester，分別應(yīng)用于電芯測試，電池管理芯片和PACK測試，循環(huán)壽命、脈沖、倍率充放電測試等。

半導(dǎo)體展區(qū)

         PXIe是一種基于PCIe總線設(shè)計(jì)的小型化測試系統(tǒng)，主要針對消費(fèi)類電子芯片的測試，如射頻前端芯片（開關(guān)、PA等），MEMS傳感器，PMIC等，穩(wěn)定性好、可擴(kuò)展性強(qiáng)、靈活通用。經(jīng)過8年的深耕，目前已擁有非常豐富的板卡，實(shí)現(xiàn)了電源、數(shù)字、模擬、射頻等14款以上板卡的量產(chǎn)，可涵蓋大多數(shù)消費(fèi)類電子芯片的測試。

顯示裝備創(chuàng)新大獎(jiǎng)銀獎(jiǎng)區(qū)

         在7月3日的DIC AWARD頒獎(jiǎng)晚宴上，金年會憑借“觸控集成電路斷路短路和屏幕點(diǎn)亮檢查復(fù)合設(shè)備”在DIC AWARD 2024國際顯示技術(shù)創(chuàng)新大獎(jiǎng)中再度榮獲“顯示裝備創(chuàng)新大獎(jiǎng)銀獎(jiǎng)”，這是金年會連續(xù)第二年摘得此殊榮，也是對金年會在顯示裝備領(lǐng)域持續(xù)創(chuàng)新能力的高度認(rèn)可。